Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.
Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage, y compris la configuration STM, la reconstruction de surface, le tunnel quantique et la microscopie à force de balayage.
Couvre les bases de la microscopie par sonde à balayage, en se concentrant sur la STM et l'AFM, en expliquant les principes, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie.
Couvre la fabrication de dispositifs MEMS nanométriques et le fonctionnement du microscope de la force atomique pour mesurer les ultrapetites forces sur les particules.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Explique le fonctionnement du microscope à force atomique pour l'imagerie des surfaces isolantes et discute des différences avec le microscope à force magnétique.
Couvre la transition vers les appareils nanométriques, l'imagerie nanométrique, les forces capillaires, l'AFM du graphène et les capteurs et actionneurs intégrés.
