Séance de cours
Microscopie électronique de transmission : Contraste de phase
Séances de cours associées (39)
Opération avancée TEM
Couvre les techniques d'exploitation avancées pour un Microscope Electronique de Transmission (TEM), y compris la mise en place de l'ensemble de travail et le réglage fin de l'image.
Composants de microscopie électronique
Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.
TEM haute résolution : Imagerie et contraste
Explore les principes TEM haute résolution pour l'imagerie cristalline au niveau atomique.
Microscopie électronique de transmission
Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Composants de microscope électronique
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Haute résolution TEM
Explore les principes de la microscopie électronique à haute résolution, y compris le transfert de contraste, la formation d'images et les correcteurs Cs.
Correction d'aberration dans HRTEM
Explique les principes de HRTEM, y compris le transfert de contraste, les lentilles et la correction des aberrations.
Microscopie électronique de transmission de base
Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.
Microscopie électronique de transmission: techniques avancéesMOOC: Transmission Electron Microscopy for Materials Sciences
Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
Composantes et fonctionnement du TEM
Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.