Spectroscopies photoélectroniques: Techniques et applications
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Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les principes fondamentaux de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X, les applications, les défis et les techniques de pulvérisation cathodique pour l'analyse de surface.
Explore les progrès de la spectroscopie dispersive à rayons X en microscopie électronique moderne, en mettant l'accent sur la sensibilité analytique et les limites de détection.
Explore le développement historique de l'optique, la méthode scientifique et la flèche du temps, mettant en évidence les grands changements de paradigme et les différences culturelles entre la religion et la science.
Explore les techniques de spectroscopie d'énergie comme XPS et UPS, la spectroscopie Auger, la sensibilité de surface et la structure de bande de graphène.
