Séance de cours
NMF guidé par la physique pour l'analyse des données STEM/EDXS
Séances de cours associées (35)
STEM et EDX
Couvre les principes STEM et EDX, la génération de rayons X, les méthodes de quantification et les applications analytiques TEM.
Gestion de la dose en microscopie électronique
Explore les défis et les solutions pour gérer la dose d'électrons en microscopie, en soulignant l'importance d'un suivi et d'une analyse précis des doses.
Microscopie électronique analytique: spectroscopie et microanalyse
Explore les techniques de microscopie électronique analytique pour l'analyse chimique à l'aide de EELS et EDX.
Microscopie électronique: EDS
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Opération avancée TEM
Couvre les techniques d'exploitation avancées pour un Microscope Electronique de Transmission (TEM), y compris la mise en place de l'ensemble de travail et le réglage fin de l'image.
STEM: Microscopie électronique à transmission par balayage
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Progrès dans la spectroscopie de dispersion de l'énergie aux rayons X
Explore les progrès de la spectroscopie dispersive à rayons X en microscopie électronique moderne, en mettant l'accent sur la sensibilité analytique et les limites de détection.
Détermination de l'épaisseur de film: Analyse XPS
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Microscopie in situ et questions et réponses TEM
Explore les applications de microscopie électronique in situ, les expériences de traction, les effets environnementaux, le XRD et l'EDS.
Microanalyse à rayons X dispersif
Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.