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Explore la modélisation de la résistance au contact dans les dispositifs semi-conducteurs, en mettant l'accent sur le calcul de la tension de la porte et l'analyse des défauts.
Explore les études de cas, les techniques d'impression, l'intégration de processus TFT, les défis de conception d'encre et les besoins en matériaux dans l'électronique imprimée.
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