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Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Couvre la contrôlabilité et l'observabilité dans les systèmes linéaires, en discutant des conditions et des implications nécessaires des matrices unimodulaires.
Explore la contrôlabilité dans les systèmes linéaires, en discutant de l'inversibilité, des matrices associées et des implications du comportement du système.
Couvre le critère de Nyquist pour l'analyse de stabilité dans les systèmes de contrôle, en utilisant le diagramme de Nyquist pour déterminer les pôles en boucle fermée.
